产品展示
【简单介绍】
【详细说明】
菲希尔(XDVM)测厚仪配创新的X射线光学系统,专门测量极小的面积.电动测量台,高能量解像半导体接收器,四个电动准直器.自动切换,采用激光自动对焦,并配备有Z轴防冲撞传感器,可防止在对焦时造成一起的损坏。可适用于各种样品, 针对高要求用户设计的,能够测量极精密的样品,如:微形部件或线路板上极微细的表面结构,它的新颖X-射线光学镜片,创新的X-射线光学原理,使这部仪器能产生非常小,但高辐射强度的测量点,所以,测量数十微米的面积的结构也变成可能。配备了半导体接收器适合测量薄到数NM的镀层,FISCHERSCOPE X-RAY 菲希尔(XDVM)测厚仪,还能测量出范围从元素氯(Z=13)至铀(Z =92)。主要应用于线路板测试、极细的铅框一片片的扫描(面积),如:硬盘镀层、细微的线。有*精度,可编程的XYZ测量台及大移动范围,测量室为长方形内槽设计,容许放入大面积的物件进行测量。:王生: : 地址:宝安中心区宏发中心大厦
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