X-RAY膜厚仪/膜厚测厚仪

X-RAY膜厚仪/膜厚测厚仪设备遵循ASTM B568，DIN ENISO 3497标准，主要基于WinFTM? V6L核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。X-RAY膜厚仪/膜厚测厚仪测量准确，使用安全简便，坚固耐用节省维护费用。而且，它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能达到*的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定。典型的應用範圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
分析電鍍溶液中的金屬離子濃度。
应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意，为客户创造zui大的价值是金东霖追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图,有需要的朋友请 王生:133 1655 7996