倍迎电子科技（上海）有限公司
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ARL QUANT,X X射线荧光光谱仪能量色散型X射线荧光光谱仪提高元素分析的质量标准X射线荧光光谱仪大气颗粒物分析• 金属、贵金属、合金 • RoHS 和 WEEE 筛选石油 • 各种油品、过滤介质、添加 剂和发动机磨损金属分析 • 水泥、陶瓷、化肥 • 原料和替代燃料 • 冶金、矿渣及矿石 • 考
ARL QUANT, X X射线荧光光谱仪
能量色散型X射线荧光光谱仪
提高元素分析的质量标准
X射线荧光光谱仪大气颗粒物分析 • 金属、贵金属、合金 • RoHS 和 WEEE 筛选石油 • 各种油品、过滤介质、添加 剂和发动机磨损金属分析 • 水泥、陶瓷、化肥 • 原料和替代燃料 • 冶金、矿渣及矿石 • 考古和文 物修复、宝石学、金属饰品 • 聚合物、催化剂、半导体和磁性介质材料 •
建立在经验的基础上
X射线荧光光谱仪作为 EDXRF参考，ARL QUANT'X 以来，ARL QUANT'X采用多种 技术来推动EDXRF 性能 及 发展。ARL QUANT' 推出了 一台Peltier电制冷Si(Li)探测器，该台式EDXRF现已发展成为 一款多功能紧凑型高性能能谱。它是一代硅漂移 探测器 (SDD)，耦合到快速 CMOS ASIC 前置放大器，兼具 高计数率和高分辨率特性。较大的探测器晶体区域可确保 大的立体角，从而 限度捕获由样品产生的 X 射线。 即 使在分析小样品或使用低至 1 mm 的准直器面罩时，50 瓦 特的大功率 X 射线管也能实现 激发。通过9个滤光片组 合，可以轻松找到激发条件。 ARL QUANT'X 支持在空 气、氦气和真空中进行分析，从而确保各类样品（无论液体、松散粉末或固体）均可实现 轻元素分析。
提高性能
X射线荧光光谱仪与上一代产品相比， ARL QUANT'X 结合了 的电 子器件、 探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结 构， 提高了灵敏度。如果要测定微量元素，除了需要提 升灵敏度之外，光谱纯度也同样重要。 ARL QUANT'X 经 过 设计，可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X 射线管产生的所有杂散干扰。 ARL QUANT'X EDXRF 光谱仪通常以高于 200 Kcps 的 输入计数率运行，同时在 Mn Kα 条件下保持优于 140 eV FWHM 的 分辨率在较短测量时间下依然可以获得 计数统计数据，从而获得 分析结果。
除提升性能外，ARL QUANT'X 还具有体积小的优势，适用于任何实验室。只需要一个标准电源插座和氦气（当需要该 气体时）即可使用。 在仪器接通电源几分钟后，Peltier 冷却 SDD 即可运行，仪器即进入工作状态，关机无需等待。
安全至上
使用 X 射线时，安全至关重要。在 ARL QUANT' X 上，通过基于互锁的自动防故障电路设计和在 X 射线打开时显示 的清晰警告标志来保证安全。在各次测量之间以及当室盖 打开时，X 射线管会关闭，从而进一步增强操作员的安 全。
增强型分析软件
X射线荧光光谱仪 WinTrace 分析软件在 Windows 10 下运行，基于 研究实践和 经验的 算法，让EDXRF分析 变得 灵活。该软件可针对任何样品中任何数量的分析物 收集和处理多达 9 个滤光后的光谱。分析程序具有多种算 法，可校准所需任意数量的校准标准品（一个标准品即能进 行校准）。收集光谱后，可随时重新处理和脱机计算光谱。自 动化 X 射线功率调节功能可保证所有样品 。
简单且用户友好的界面
X射线荧光光谱仪在数字世界中， 如果没有可以充分发 挥其功能的灵活软件，它也会受到限制。Method Explorer（ 方法管理器）界面为 用户提供每个参数的访问权限，允许他们在任何应用中针对关注元素选择 测试通量、或者灵敏度的分析条件。只需单击元素周期表，即可添加或删除分析元素。使用树形界面方便查看校准和分析结果。 通过已有方法文件可快速建立自己的方法。使用标准数据库 可集中管理参考物质、标准样品的所有数据。
虽然全面控制和微调功能对于光谱仪十分重要，但是速度和 易用性在行业环境中 也关键。WinTrace 允许使用预先加
载的目标方法设置快捷方式。操作员只需输入样品名称，然 后单击即可进行测量。在测量后，光谱图和分析结果将自动 保存到方法中。用户可方便地将所有分析数据存储在一个位 置。
光谱计算
X射线荧光光谱仪对于任何定量分析，个关键步骤是从光谱中 提取峰 值强度。 去卷积算法允许从包含许多元素分析线的复杂 光谱中正确提取净峰值强度。并能自动处理逃逸峰及和峰。 预定义的设置适用于大多数应用，并且可以轻松进行自定 义
元素分析和镀层分析
X射线荧光光谱仪WinTace 软件提供一系列分析算法，可处理任何类型的样 品，无论样品是固体、粉末还是涂层。如果分析的元素数量 有限并且有足够可用的标准品，经验算法即得到结果 基本参数 (FP) 算法可用于任意数量的元素、标准品和激发 条件的校正。FP厚度分析模块 可测量六层（包含任意数 量的元素）的厚度、质量和组成。也可以脱机重新计算所有 等式，从而轻松实现方法 。
受密码控制的访问级别
校准方法具有密码保护选项，防止操作员在使用该方法时意 外更改校准参数或有用数据。WinTrace 还提供不同的用户 级别权限，入门级模式允许用户在短时间培训下能够快速完 成样品分析，而 模式则允许用户管理员 控制仪器及其校准参数。
数据传输
X射线荧光光谱仪通过 TRACEcom 软件包，WinTrace 可轻松与 LIMS 交互，从而支持以用户可选格式共享分析数据。该功能有助 于将 ARL QUANT' X EDXRF 光谱仪集成到自动化实验室
中。
多语言
X射线荧光光谱仪使用已翻译成您本国语言的软件时，总会感到更加简单。 现 在，可按多种内置语言配置用于 ARL QUANT'X EDXRF 的 WinTrace。
无标样分析技术
赛默飞世尔科技公司的综合性半定量无标样分析方法称为 UniQuant，它利用所有过滤片和预设激发条件设置对氟到 铀的所有元素实现 测量。，并且可在无用户干预或优化
的情况下生成任何未知样品的 曲线。样品的完整光谱曲 线使UniQuant 能够对所有可能的重叠和背景效应自动进行 校正，而这在能量色散光谱的定量分析中 复杂。
• 分析所有元素
• 在计算中包括每个样品的物理性质，即面积、高度和 质量
• 空气或氦气以及样品杯膜吸收和杂质均得到校正
• 使用漂移校正样品对X射线管的长期稳定性进行监控
• 多种可选择的报告级别和格式可为各类用户提供清晰结果
多功能样品室
批量分析样品，提高生产效率，并通过大样品室和多种送样 选配装置扩展EDXRF的分析通量。模块化仪器设计允许在 应用发生更改时轻松添加或删除任何样品处理选项。
自动进样器有助于提高生产效率
自动化的 10 位和 20 位样品转盘可批量分析标准的液体样 品杯、粉末压片、气溶胶和滤膜。 支持外径为 31 mm 的样品 杯，以及 外径为 51.5 mm 的钢环。
气体选择
得益于样品和探测器之间的紧密耦合，即使是在空气条件 下。仍可检测轻元素。真空有助于提高固体中轻元素的灵敏 度，而氦气环境则适用于液体样品。 惰性气体可用于腐蚀性 材料或不稳定的材料的分析，考虑这种情况，我们在样品分 析室使用了耐化学腐蚀材料。
适用于大型样品
单样品托盘和大样品台可接受异形、较大且不规则的样品， 大尺寸分析室足够容纳这类样品。
分析室扩展
对于体积 大的样品，例如气缸体、防尘罩、涡轮碎片、汽车 零部件以及高达 36 cm（14.2 英寸）的任何样品，也可以通 过可选的分析室扩展进行分析，而无需额外的工作或准备。
1位和10位样品转换器可配备样品旋转器，以进一步降低分 析误差。在分析轻元素时，样品旋转尤其重要，对于这些元 素，将从样品表面的几个原子层生成X射线信息。
分析小样品或小于1mm的小斑点
可以在15mm至1mm的范围内调整光束尺寸，以便进行快速 筛选，方便研究和调查工作。 这适用于分析较小样品或样品的特定区域或斑点
在分析过程中观察样品
通过用于样品成像的 CCD 相机和可调节的 X 射线束直 径，ARL QUANT'X 允许您选择需要分析的样品部位
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