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Specim发布中波红外高光谱成像仪-FX50
芬兰时间4月1日上午9点（北京时间4月1日下午15点），Specim正式发布适用于工业机器视觉领域的中波红外高光谱成像仪——FX50。
该款产品的特点是，选用中波红外（MWIR）区域，可用于识别和分类难处理的黑色塑料，分析碳氢化合物和矿物，快速、可靠地检测金属表面的污染，提高准确性，降低成本。因此一经问世，便以高速、精确、高效的特点，引起了广泛关注。
l优势
Ø市场上超紧凑和坚固的MWIR高光谱相机
Ø对黑色材料进行分类识别的可靠方法
Ø也可识别黑色ABS塑料，因为它的光谱区域可以延伸到5300 nm
Ø为油气和矿探生产过程中分析暗色样品中矿物和碳氢化合物提供了新的技术手段
Ø由于其在MWIR范围的强光谱特征，能够检测低浓度杂质
l
灵活性
相机覆盖范围内150个波段可自由选择
三种镜头可供选择，以满足不同带宽需求
l快速的光学设计
高灵敏度：能够在较短积分时间内提供良好的信号
l集成方案
Ø易于集成和更新现有系统（GigE接口）
Ø兼容商业机器视觉软件工具
Ø可用Specim SDK和ASCII控制协议集成到现有软件解决方案中
Ø可用MWIR光源
应用领域 | 技术参数 | |
| 光谱范围 | 2.7-5.3μm |
光谱波段 | 152（2-bin） | |
光谱采样（FWHM）/FWHM | 8.44nm/35nm | |
空间采样 | 640px | |
帧率 | 380FPS（全光谱&空间数据） 更高的光谱ROI | |
视场角 | 24°、45°、60° | |
F值 | F/2.0 | |
相机接口 | GigE（触发输入） | |
尺寸 | 280×202×169mm | |
重量 | 7Kg | |
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