LA-S系列植物根系分析系统根系分析仪（WSeens plant roots analyser）
LA-S型植物根系分析仪系统用于对洗净的植物根系进行多参数快速分析
1、LA-S型植物根系分析仪系统可分析测量：
1）根总长；
2）根平均直径；
3）根总面积；
4）根总体积；
5）根尖计数；
6）分叉计数；
7）交叠计数；
8）根直径等级分布参数；
9）可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积 等，及其分布参数；
10）根尖段长分布；
11）能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积；
12）能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，可单独自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等；自动分析根系分级伸展的等级分布情况，可达到5级侧根的自动分析；
13）可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数（分档数、档直径范围任意可改）；
14）大批量的全自动根系分析，可对各自动分析结果图进行编辑修正；
15）能用盒维数法自动测根系分形维数；
16）能进行根的分叉裁剪、合并、连接等修正，修正操作能回退，以快速获得*正确的结果。精度：根长≤±1%；面积：优质图像质量时<1%，标准图像质量时≤3%；
17）匹配专门的双光源照明系统，提供高分辨率的彩色或黑白图像，去除了阴影和不均匀现象的影响，有效保证图像质量；
18）采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等，可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG、PCX标准格式的图像。
19）可兼做针叶面积、体积测量，以及棉纤维粗细、长度测量。
2、人工辅助修正：图像可放大缩小和局部观察，可实现鼠标区域选择统计、对污染区的辅助裁剪或橡皮擦修正。
3、统计效果监视：监视和修正植物对象分析的精度。
4、自动杂质剔除：根据尺寸等方面的区别，进行自动杂质剔除。
5、辅助测量功能：
尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正；
长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量；
6、数据导出
分析图像、分布图、结果数据可保存，分析结果输出至Excel表，可输出分析标记图
LA-S型标配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800双光源彩色扫描仪，zui大分析测量面积：反射稿为A4加长幅面（35.6 cm×21.6 cm），扫描根面积30 cm×20 cm，可分辨的zui小尺寸0.008 ×0.008 mm。植物图像分析测量精度（由扫描仪决定，可软件部分校正）：X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25%；长度测量重现性误差<±0.25%；面积测量重现性误差<±0.25%；台间测量差异<±0.25%。测量分析时间：30~60秒。用户需另配计算机。
注：若需大幅面分析，请选配：光学分辨率2400×4800dpi、A3的Microtek Phantom 9850XL plus扫描仪。
应用万深分析仪器 发表的部分学术论文 已有百篇：http://www.wseen.com/News.aspx?id=6
