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深圳冷热冲击试验箱-LED照明-电子元器件冲击试验机

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产品型号

品       牌

厂商性质生产商

所  在  地深圳市

更新时间:2017-07-30 14:53:00浏览次数:1018次

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产品简介

高低温冲击试验箱,三箱法温度冲击试验箱高低温冲击试验箱,三箱法温度冲击试验箱高低温冲击试验箱,三箱法温度冲击试验箱高低温冲击试验箱,三箱法温度冲击试验箱高低温冲击试验箱,三箱法温度冲击试验箱

详细介绍

产品名称:三箱法温度冲击试验箱
详细说明:

重庆宏展高低温冲击试验箱
 
产品用途:温度冲击试验箱分为两箱法动态冲击和三箱法静态冲击,既可做高低温冲击试验,也可做单独高温或低温试验。适用于航空、航天、*、电子、电工产品等模拟试品在大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全可靠性试验和产品筛选。
主要配置:外壳采用优质冷轧钢板酸洗磷化后静电喷塑,内胆采用SUS304#优质不锈钢;原装高效强力工业制冷机(组)及优质制冷配件,采用R404A、R23环保制冷剂;进口德国西门子PLC中文彩色液晶触摸屏可编程智能温度控制器。
TET-J系列两箱法:分为上下、水平两种结构,采用气动机械装置进行转换,转换时间短,结构紧凑,体积小。
TET-JS系列三箱法:通过气动系统控制的风门自动切换来实现温度转换,主要用于被测试样品在试验过程中必须静止不动以保证试品不受任何机械冲击。
选配附件:通讯接口RS232或RS485、记录仪、微型打印机、远程温度控制系统(含打印机、通讯软件、电脑)、移动脚轮。
 
主要技术规格参数

型号
工作室尺寸
(提篮尺寸)
(㎜)
外形尺寸
(㎜)
功率
(约Kw)
温度范围
   (℃)
其它指标

温度波动度

/均匀度

执行/满足标准
1
TET701J
500×500×500
(280×240×310)
1865×1140×1760
12.5
温度范围
-70~+180
 
冲击范围
条件一:
-40~+70
 
条件二:
-55~+85
垂直两箱法
温度波动度
1℃
温度均匀度
≤±2℃
 
转换时间
≤5s
恢复时间
≤5min
 
GB2423.22-89Na
GJB150.5-86
MIL-STD-810-503.2
2
TET702J
600×600×600
(380×340×410)
2065×1240×1960
17.0
3
TET705J
800×800×800
(580×540×610)
2315×1440×2360
31.0
4
TET710J
1000×1000×1000
(700×750×700)
2150×2750×2120
52.0
水平两箱法
5
TET701JS
500×500×500
1665×1410×2260
21.5
三箱法
6
TET702JS
600×600×600
1765×1510×2380
33.5
7
TET705JS
800×800×800
2370×1710×2600
47.0
8
TET710JS
1000×1000×1000
2300×3160×2080
68.0

声明:1、除以上所列规格外,可根据用户特殊要求进行非标准产品设计、制造。
            2、产品若有技术更新导致设计更改之处,恕不另行通知。

关键词:控制器

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