广东皓天检测仪器有限公司
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高效冷热冲击试验箱，半导体器件可靠性测试
专为半导体器件可靠性测试设计，采用创新制冷与加热技术，箱体结构紧凑稳固，内部空间合理规划，可同时容纳多种规格半导体器件进行测试。设备搭载智能控制系统，支持远程操作与数据实时监控，配备高清触控显示屏，操作界面简洁直观，便于用户快速设置测试参数、查看测试进度与结果。
高效冷热冲击试验箱，半导体器件可靠性测试
用途
高效冷热冲击试验箱，半导体器件可靠性测试
技术参数
温度范围：高温区高可达 200℃，低温区低可达 -70℃
温度波动度：±0.5℃
温度均匀度：±2℃
冷热转换时间：≤5 秒（全程平均，含风门切换、风速调节等动作时间）
冲击温度范围：-60℃ ～ +150℃
升温速率：≥5℃/min
降温速率：≥5℃/min
工作室尺寸：（可定制，常规尺寸）600mm×500mm×500mm
电源要求：AC380V±10% 50Hz
应用领域
集成电路：对各类芯片、集成电路板进行可靠性测试，保障电子产品核心部件的性能稳定。
功率器件：如 IGBT 模块、MOSFET 等，确保其在不同环境温度下的正常工作与安全性能。
传感器：用于检测温度传感器、压力传感器等半导体传感器在环境下的精度与可靠性。
光电器件：包括发光二极管（LED）、激光二极管等，评估其在冷热冲击下的光学性能与使用寿命。
产品特点
高效快速：采用制冷制热系统与智能控制算法，实现快速的冷热冲击转换，大幅缩短测试周期，提高检测效率。
精准控温：高精度温度传感器与 PID 智能控温技术，确保箱内温度精准稳定，满足半导体器件测试对温度控制的严苛要求。
安全可靠：具备多重安全保护装置，如超温报警、漏电保护、压缩机过载保护等，保障设备与人员安全；设备运行稳定，故障率低，维护方便。
灵活定制：可根据客户不同的测试需求，定制工作室尺寸、温度范围、测试程序等，满足多样化测试场景。
数据管理：支持测试数据的自动记录、存储与导出，方便用户进行数据分析与报告生成，为产品研发与质量控制提供有力依据。
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