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GP300探针台12英寸手动探针台

GP300探针台产品数据：

1. 机台可轻松实现DC ~ THZ测量。

2. 提供芯片级I-V / C-V低噪声测试系统方案。

3. 优异的三轴设计，保证I-V测试漏电精度达到fa等级。

4. 多孔吸附式载物台设计，更好地兼容薄晶圆固定。

5. 高品质显微镜搭配高分辨率CCD系统，可直观了解扎针情况，提高扎针的准确性和效率。

6. 可升级的高低温系统，为芯片提供更加成熟稳定的老化测试环境。

7. 紧凑且可靠的机械设计，更适用于芯片的测试及建模系统升级。

8. 能够根据未来需求，可提供多种升级模块，轻松实现探针台功能升级。

9. 短轴式拉杆设计，将更加符合新一代芯片系统测试的需求。拉杆在任意位置可停留、极限位置能快速锁定、分离位可固定，将进一步防止误操作，提高测试效率，节省成本。

温控系统局部细节图--高温低漏电载物台

搭载直流和射频探针座实物照片

搭载思仪太赫兹系统实物