当前位置:北京易科泰生态技术有限公司>>植物光谱与冠层测量>> Hemiview数字植物冠层分析系统简介
一、 用途:
HemiView 通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的,例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息,HemiView 能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布.
二、 原理:
使用180度鱼眼镜头和高清晰度数码相机从植物冠层下方或森林地面向上取像, 再将数码相机的高清晰度影像载入HemiView软件,进行分析处理。
三、组成:
DCM8高清晰度数码相机:用以获取冠层图像 ,15.1M像素;
SLM8 自平衡相机安放支架:安装数码相机,自动保持水平;
SCL8数码相机用鱼眼透镜:与数码相机一起获取冠层图像;
MPD1可伸缩单臂支架:可以获取不同层面冠层图像;
HemiView软件:处理影像数据文件。
2G数据存储卡:储存冠层图像。
四、可选件:
HMV-TD2三脚架:用于安装相机及水平配件。
五、基本技术指标:
1、数码相机大分辨率:15.1M pixels;
2、鱼眼透镜视角:180º;
3、2M数据存储卡数据容量
4、MPD1可伸缩单臂支架范围:0.69 ~ 1.66 m ;
5、工作温度:+5~+55℃
六、产地:英国
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