详细介绍
不仅做动态老化,还具备DUT(受测器件:Device Under Test)的输出信号监视功能。用这个功能对DUT的动作进行监视,防止筛选漏网,主要试验对象为SDRAM,SRAM等内存类,CPU,ASIC,系统LSI等逻辑装置,也对应各种MOS形的IC。 更多详细信息请浏览以下:
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参考价 | 面议 |
更新时间:2019-12-23 16:51:43浏览次数:269
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不仅做动态老化,还具备DUT(受测器件:Device Under Test)的输出信号监视功能。用这个功能对DUT的动作进行监视,防止筛选漏网,主要试验对象为SDRAM,SRAM等内存类,CPU,ASIC,系统LSI等逻辑装置,也对应各种MOS形的IC。 更多详细信息请浏览以下:
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