TRICONEX 3704E

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CER测试

　　下面的简化功能框图给出了如何测试内部ADC内核的CER。在或接近ADCzui大编码速率下采样时，可使用频率相对较慢的正弦波作为模拟输入。应对模拟输入信号进行规划，以便在忽视系统噪声的情况下，两个相邻样本之间的预期差不大于1 LSB代码。理想情况下，模拟输入信号比满量程稍大，以便运用ADC的所有代码。应计算模拟输入和编码采样速率，以便建立较长的*性周期，而ADC不在同一代码级别进行*采样。

　　图6. 图中所示为CER测试的两种采样情形。顶部的情形是以比Fs/2稍快的速率对模拟信号进行采样，其中仅每隔一个样本比较一次。理想情况下，两个连续样本的不同之处不超过一个LSB代码。下面的情形是对相对较慢的模拟输入进行过采样，以便两个相邻样本的不同之处也不超过一个LSB代码。

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