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　散粒噪声是指由于电子的随机到达而引起器件中电流的随机波动。因此，散粒噪声与流过器件的电流大小相关，并且服从泊松分布。散粒噪声与热噪声相区别，热噪声在没有任何电压或平均电流的条件下同样存在，而散粒噪声在没有电流条件下不存在。像素的散粒噪声与像素中的电流相关，包括光电流、暗电流。其计算公式如下：

　　光电流散粒噪声与照度有关，很难消除。与暗电流有关的散粒噪声可以通过改变掺杂浓度减小暗电流，但这会降低量子效率。在本电路中，In=100 fA，Is=20 pA，Tint=20 μs，C int =2 fF，则Vdarkn=0.28 mV，Vsn=4 mV。

　　3.2 读出电路噪声

　　闪烁噪声也称为1/f 噪声。在半导体材料中，晶体缺陷和杂质的存在会产生陷阱， 陷阱随机捕获或释放载流子形成闪烁噪声。在读出电路中，CTIA 放大器是闪烁噪声的主要来源。

　　CTIA 读出噪声与输入端电容Cin=Cpd、反馈电容Cfb，以及负载电容CL的设计均有关，其小信号噪声模型如图4 所示。

　　图4 CTIA 放大器噪声模型

　　噪声电压为

　　在本电路中，Cfb=2 fF，Cpd=1.3 pF，CL=1 pf，α=1.5，T=300 K，则Vn=2 mV。