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叶面指数记录仪

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所  在  地杭州市

更新时间:2018-03-28 17:09:29浏览次数:359次

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仪器用途:
植物冠层分析仪可测量叶面积指数、叶片平均倾角、散射辐射透过率、不同太阳高度角下的直射辐射透过率、不同太阳高度角下的消光系数、叶面积密度的方位分布、冠层内外的光合有效辐射(PAR)等。广泛应用于作物、植物群体冠层受光状况的测量分析以及农林业科研工作。

叶面指数记录仪
仪器型号:*300
 
仪器用途:
植物冠层分析仪可测量叶面积指数、叶片平均倾角、散射辐射透过率、不同太阳高度角下的直射辐射透过率、不同太阳高度角下的消光系数、叶面积密度的方位分布、冠层内外的光合有效辐射(PAR)等。广泛应用于作物、植物群体冠层受光状况的测量分析以及农林业科研工作。

功能特点:
1、无损测量叶面积指数、叶片平均倾角以及冠层结构。
2、探头体积小巧,装在测杠上可任意角度测量植物冠层结构。
3、摄像头可自动保持水平。
4、USB接口,测量时连接电脑实时查看图像,即时选取所需图像并保存。
5、外接大容量锂电池,适用于野外工作和长时间测量。
6、测量冠层不同高度,可得到群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图。
7、配有分析软件,有选择所需图像区域的功能(天顶角可分10区,方位角可分10区),可屏蔽不合理的冠层部分,仅对有效图像区域进行分析,使测量数据更加精确。

技术参数:
镜头角度:150°(特殊需求可自选180°镜头)
分 辨 率:768×494pix
测量范围:天顶角由0°~75°(可分割成十个区域);
          方位角360°(可分割十个区域)
PAR感应范围:感应光谱400nm~ 700nm
测量范围:0~2000μmol/㎡?S
电    源:7.4V锂电池组
传输接口:USB
工作温度:0~55℃

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